hast测试产品特点及性能参数： hast测试产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，把频率衰减降到，减少误测；hast测试 hast测试产品打开方向背离金手指方向。更适合人性化操作，同时不会和卡槽位发生干涉。 hast测试产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒； 有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个IC平衡下压； 采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命； 内存颗粒测试PCB经过高精度的CNC二次加工，从而保证了与合金件的定位，达到更优化的测试精度，同时金手指和IC焊盘的镀金厚度是普通的PCB的十数倍，保证测试治具具有更好的导通和耐磨性，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命。hast测试 的针板设计，采用开模标件，能够独立更换,同时利用定位销与合金件定位，客户可进行备件，方便更换，维修简便，为生产节约宝贵时间。 hast测试采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，DDR3系列频率可达2000MHZ；